數(shù)字延時發(fā)生器提供對所有脈沖參數(shù)的*控制，這些參數(shù)如定時、電平和沿。它可用于設置連續(xù)或觸發(fā)的脈沖流，具有適應富挑戰(zhàn)性應用的靈活性?？砂刺囟☉玫男枰{(diào)整所有參數(shù)。與任意波形發(fā)生器不同的是規(guī)定的頻率不是采樣率，而是矩形波輸出的頻率。
數(shù)字延時發(fā)生器不僅能產(chǎn)生如前所述的簡單脈沖、突發(fā)和連續(xù)脈沖流。其碼型能力還能產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號。這一多功能性是數(shù)字器件測試應用的關鍵，例如對于符合性測試。
碼型模式中可實現(xiàn)與傳統(tǒng)脈沖產(chǎn)生模式對信號輸出同樣的*控制。它允許產(chǎn)生無數(shù)量限制的數(shù)據(jù)信號，包括標準不歸零(NRZ)信號，或具有可編程脈沖寬度和對時鐘信號附加延遲的數(shù)據(jù)突發(fā)。
數(shù)字延時發(fā)生器的放射性原子核的衰變在時間上是隨機的。因此，一個放射源在單位時間內(nèi)發(fā)生衰變的原子核數(shù)圍繞其平均值成泊松分布。核探測器接收到的信號計數(shù)率也圍繞平均計數(shù)率呈泊松分布。其他隨機過程，例如一定束流轟擊靶發(fā)生的反應數(shù)、正負電子束團對撞時單位時間內(nèi)發(fā)生的事例數(shù)也都遵循同樣的規(guī)律。
一般，在檢測電子電路和數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)的性能時用數(shù)字延時脈沖發(fā)生器來模擬從核探測器來的信號。脈沖產(chǎn)生器信號是周期性的，它們之間的時間間隔總是一樣的。而一些較復雜的系統(tǒng)對周期性脈沖和隨機脈沖的反應可能不一樣，特別是當計數(shù)率接近系統(tǒng)的處理能力的*。為了檢測電子電路和數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)在隨機觸發(fā)下的性能，需要用時間上隨機的脈沖信號源。
數(shù)字延時脈沖發(fā)生器在用碼密度法測試TDC的微分非線性時需要輸入一個時間上隨機的信號。盛華義等提出用電路本身的隨機噪聲產(chǎn)生隨機擊中信號。
先后用數(shù)字的方法研制了兩種隨機脈沖產(chǎn)生器。一種用單片機給出隨機脈沖間隔；第二種用偽隨機碼給出隨機脈沖。
數(shù)字延時脈沖發(fā)生器和增量式光電編碼器一樣，磁性編碼器也是由位移量變換成數(shù)字式電脈沖信號的傳感器，近年來發(fā)展相當迅速，已有磁鼓式、磁敏電阻式、勵磁磁環(huán)式、霍爾元件式等多種類型。
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