顯微熒光成像系統(tǒng)

簡要描述：S-MPL系列顯微熒光成像系統(tǒng)
光致發(fā)光（photoluminescence）即PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光，在半導(dǎo)體材料的發(fā)光特性測量應(yīng)用中通常是用激光（波長如325nm、532nm、785nm等）激發(fā)材料（如 GaN、ZnO、GaAs等）產(chǎn)生熒光，通過對其熒光光譜（即PL譜）的測量，分析該材料的光學(xué)特性，如禁帶寬度等。

產(chǎn)品型號：S-MPL系列
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-12-18
訪問量：1338

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

推薦產(chǎn)品

顯微分光膜厚儀查看詳情

半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀查看詳情

ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) 查看詳情

便攜式拉曼光譜儀查看詳情

PRODUCT

產(chǎn)品中心

光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應(yīng)度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計標(biāo)準(zhǔn)燈參考輻射定標(biāo) 電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

ARTICLES

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌

S-MPL系列顯微熒光成像系統(tǒng)簡介

光致發(fā)光(photoluminescence)即PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光，在半導(dǎo)體材料的發(fā)光特性測量應(yīng)用中通常是用激光（波長如325nm、532nm、785nm等）激發(fā)材料（如 GaN、ZnO、GaAs等）產(chǎn)生熒光，通過對其熒光光譜（即PL譜）的測量，分析該材料的光學(xué)特性，如禁帶寬度等。光致發(fā)光可以提供有關(guān)材料的結(jié)構(gòu)、成分及環(huán)境原子排列的信息，是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，因而在物理學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)及分子生物學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。
傳統(tǒng)的熒光光譜儀一般采用透鏡收光的方式，針對發(fā)光非常微弱的納米材料，即便用激光器激發(fā)，也很難獲得較好的信號。結(jié)合多年的實際測樣經(jīng)驗，我司推出了顯微PL系統(tǒng)，采用顯微物鏡收光，較傳統(tǒng)的熒光光譜儀其收光效率提升了至少3個數(shù)量級，因此特別適用于傳統(tǒng) 熒光系統(tǒng)難以檢測到的微弱信號，另外其輔助的白光成像功能，還可以實現(xiàn)微區(qū)（微米級）定位測量。

應(yīng)用領(lǐng)域：