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簡要描述:Keithley 4200半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)使用 4200A加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析 研究。 .高性能參數(shù)分析儀,提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量
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品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),地礦 |
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• 使用 4200A加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析 研究。 .高性能參數(shù)分析儀,提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。
• 內(nèi)置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語
• 使用數(shù)百個用戶可修改應(yīng)用測試開始您的測試
• 自動實(shí)時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)
• 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設(shè)備終端
• 用戶可配置低電流功能,個性化輸出通道名稱,查看實(shí)時測試狀態(tài)
• NBTI/PBTI 測試,隨機(jī)電報噪聲,非易失內(nèi)存設(shè)備,穩(wěn)壓器應(yīng)用測試
型號 | 說明 |
4200A-SCS-PK1 | 210V/100mA,0.1 fA 分辨率,對于兩端和三端設(shè)備,MOSFET、CMOS 檢定套件4200A-SCS-PK1 包括: |
高分辨率 IV 套件 | • 4200A-SCS 參數(shù)分析儀 |
• 4200-SMU 模塊 | |
• 4200-PA 前置放大器 | |
• 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備 | |
4200A-SCS-PK2 | 210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz,對于高 K 電解質(zhì),深亞微米 CMOS 檢定套件4200A-SCS-PK2 |
高分辨率 IV 和 CV 套件 | 包括: |
• 4200A-SCS 參數(shù)分析儀 | |
• 4200-SMU 模塊 | |
• 4200-PA 前置放大器 | |
• 4210-CVU 電容-電壓模塊 | |
• 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備 | |
4200A-SCS-PK3 | 210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz,對于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì),深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件 |
高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS-PK3 包括: |
• 4200A-SCS 參數(shù)分析儀 | |
• 4200-SMU 模塊 | |
• 4210-SMU | |
• 4200-PA 前置放大器 | |
• 4210-CVU 電容-電壓模塊 | |
• 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備 | |
4200-BTI-A | 用于使用尖.端 CMOS 技術(shù)套件進(jìn)行復(fù)雜的 NBTI 和 PBTI 測量4200-BTI-A 包括: |
超快 NBTI/PBTI 套件 | • 4225-PMU 超快 I-V 模塊 |
• 4225-RPM 遠(yuǎn)程前置放大器/開關(guān)模塊 | |
• 自動化檢定套件 (ACS) 軟件 | |
• 超快 BTI 測試項(xiàng)目模塊 | |
• 電纜 |
Keithley 4200半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)
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