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當前位置:首頁產品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚線掃描膜厚儀(離線型)

線掃描膜厚儀(離線型)

產品簡介

●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測

●硬件&軟件均為創(chuàng)新設計

●作為專業(yè)膜厚測定廠商,提供多種支援

●實現高精度測量(已取得專zhuan利)

●實現高速測量(500萬點以上/分)

產品型號:
更新時間:2025-05-07
廠商性質:生產廠家
訪問量:704
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產品信息

式樣

線掃描膜厚儀(離線型)

測量案例

250mm寬的薄膜案例

 








上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經過多年的發(fā)展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業(yè)內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場地位和影響力。

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