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簡要描述：●全面高速高精度進行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援●實現(xiàn)高精度測量（已取得專zhuan利）●實現(xiàn)高速測量（500萬點以上/分）
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-12-19訪 問 量：306
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詳細介紹
| 品牌 | OTSUKA/日本大塚 |
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250mm寬的薄膜案例
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
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