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薄膜到厚膜的測量范圍 UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀 藉由絕對反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000高gao端機種90%的強大功能 無復雜設定，操作簡單
可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數。除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。
●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測 ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設計 ●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援 ●實現高精度測量（已取得專zhuan利） ●實現高速測量（500萬點以上/分）
●采用線掃描方式檢測整面薄膜 ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設計 ●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援 ●實現高精度測量（已獲取專zhuan利） ●實現高速測量 ●不受偏差影響 ●可對應寬幅樣品（TD方向最大可測量10m）
●通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量 ●從配光上評估紫外光的最大發(fā)光強度、光束開度、光束光通量 ●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 ●支持從 LED 芯片到模塊和應用產品的廣泛樣品 ●用軟件批量控制電源和測量儀器
●該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。 ●覆蓋從紫外線到可見光的寬波長范圍 ●帶軟件的樣品照明電源，測量儀器批量控制 ●LIV測量，脈沖點測量，樣品溫控測量 ●設備校準的標準燈由我們自己的部門提供，并由 JCSS 校準公司注冊。
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