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中階梯光譜儀采用中階梯光柵+棱鏡色散的高通量光路設(shè)計(jì),科學(xué)級制冷面陣CCD探測器,使其同時(shí)具備高分辨和高靈敏度特性,可以配合ICP光源及進(jìn)樣系統(tǒng)組成ICP整機(jī),也可搭建各種高分辨光譜測試系統(tǒng),充分發(fā)揮其寬譜高分辨、高靈敏優(yōu)勢。中階梯光譜儀產(chǎn)品特點(diǎn):1、無轉(zhuǎn)動部件,全光譜無遺漏成像2、全譜范圍,高分辨率(0.03nm@200nm),干擾光譜重疊弱3、體積小,使用簡單,可在較小成像焦距下輕松獲得高的光譜分辨率4、根據(jù)需要獲取的信號性質(zhì)不同,可以選配不同的探測器5、穩(wěn)態(tài)光譜的測量,...
電致發(fā)光系統(tǒng)是專業(yè)為發(fā)光材料發(fā)光光譜測量設(shè)計(jì)的電致發(fā)光/光致發(fā)光測試儀器,適合測量LED與發(fā)光材料發(fā)光特性和發(fā)光效率,并對發(fā)光元件特性優(yōu)劣分析。電致發(fā)光系統(tǒng)采用4''PTFE高反射率積分球收集LED各角度發(fā)光,可能測量LED和發(fā)光材料。電致發(fā)光測試儀系統(tǒng)特點(diǎn):針對新型電致發(fā)光材料設(shè)計(jì)、快速超低亮度0.1cd/m2測量能力;LED老化測量功能;外部量子效率測試;可與手套箱整合;具備NIR波段(700-1000nm)測試能力;LED全參數(shù)測定能力。電致發(fā)光系統(tǒng)采用PTFE積分球測...
射頻信號發(fā)生器是一種電子測試設(shè)備,可在各種頻率上產(chǎn)生射頻信號,具有高光譜純度、穩(wěn)定的頻率和振幅。射頻信號發(fā)生器與矢量信號發(fā)生器不同,矢量信號發(fā)生器產(chǎn)生射頻信號,但同時(shí)也具有復(fù)雜的數(shù)字調(diào)制能力,具有QPSK、QAM、FSK、BPSK和OFDM等格式;而射頻信號發(fā)生器提供的調(diào)制包括振幅調(diào)制(AM)、頻率調(diào)制(FM)、相位調(diào)制(PM)和脈沖調(diào)制。射頻信號發(fā)生器的核心參數(shù):現(xiàn)在的測試測量設(shè)備中有許多是具有附加功能的射頻信號發(fā)生器,它們用于廣泛的應(yīng)用中。射頻信號發(fā)生器各項(xiàng)參數(shù)從根本上可...
高光譜測試系統(tǒng)是高光譜相機(jī)、顯微鏡、計(jì)算機(jī)等結(jié)合的新型應(yīng)用方式,借助顯微鏡結(jié)構(gòu)在不同放大倍率下把待測試樣品的微觀尺度進(jìn)一步的提升的特點(diǎn),能夠充分觀察物質(zhì)在其微觀尺度上的圖像信息,從而進(jìn)一步獲取物質(zhì)的光譜信息,這樣充分利用高光譜在光譜和圖像方面的優(yōu)勢,結(jié)合顯微機(jī)構(gòu)系統(tǒng),把高光譜技術(shù)的應(yīng)用又進(jìn)一步進(jìn)行了拓展。高光譜測試系統(tǒng)的測試原理及方法:高光譜成像技術(shù)是近二十年來發(fā)展起來的基于非常多窄波段的影像數(shù)據(jù)技術(shù),其突出的應(yīng)用是遙感探測領(lǐng)域,并在越來越多的民用領(lǐng)域有著更大的應(yīng)用前景。它集...
精密電動旋轉(zhuǎn)臺通過電機(jī)驅(qū)動,實(shí)現(xiàn)角度調(diào)整自動化。精加工蝸輪蝸桿或齒輪傳動,角度調(diào)整無限。精密軸系設(shè)計(jì),保證精密高,承載大;步進(jìn)電機(jī)與傳動件通過進(jìn)口高品質(zhì)彈性聯(lián)軸器連接,排除空間和加工形位誤差。旋轉(zhuǎn)臺面外圈刻度直觀;標(biāo)準(zhǔn)接口,方便信號傳輸;手動手輪配置,電控手動均可。精密電動旋轉(zhuǎn)臺的產(chǎn)品特點(diǎn):1、中空結(jié)構(gòu)精密旋轉(zhuǎn)臺的轉(zhuǎn)盤為中空結(jié)構(gòu),伺服電機(jī)連接在側(cè)邊,方便冶具中的氣管、電線安裝。2、高剛性精密旋轉(zhuǎn)臺的轉(zhuǎn)盤由一套精密交叉滾子軸承支撐,軸承中的滾子呈90度交錯(cuò)排列,并且滾子直徑略大...
顯微分光膜厚儀分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。顯微分光膜厚儀的工作原理:采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁...
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